{"id":34950,"date":"2026-10-20T08:24:43","date_gmt":"2026-10-20T06:24:43","guid":{"rendered":"https:\/\/fmd-insight.de\/?p=34950"},"modified":"2026-10-27T11:58:45","modified_gmt":"2026-10-27T10:58:45","slug":"halbleiter-testzelle-plattform-fuer-die-effizienten-entwicklung-anspruchsvoller-halbleitertestloesungen","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/expertise\/close-ups\/halbleiter-testzelle-plattform-fuer-die-effizienten-entwicklung-anspruchsvoller-halbleitertestloesungen\/","title":{"rendered":"Halbleiter-Testzelle<\/strong> | Plattform f\u00fcr die effiziente Entwicklung anspruchsvoller Halbleitertestl\u00f6sungen"},"content":{"rendered":"\n
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Die Entwicklung und Qualifizierung moderner Halbleiter erfordert flexible, industrienahe Testinfrastrukturen. Bevor ein Chip in die Serienfertigung \u00fcberf\u00fchrt werden kann, muss gepr\u00fcft werden, ob die integrierte Schaltung die vorgesehenen elektrischen und funktionalen Eigenschaften erf\u00fcllt. Die Testergebnisse liefern dabei nicht nur Erkenntnisse \u00fcber die Qualit\u00e4t einzelner Chips, sondern auch wichtige Informationen \u00fcber deren Verhalten und die Stabilit\u00e4t von Herstellungsprozessen. Das Fraunhofer IIS bietet hierf\u00fcr mit seiner automatisierten Testzelle eine umfassende L\u00f6sung, die den \u00dcbergang von der Charakterisierung im Entwicklungsstadium bis zum seriennahen Test begleitet und so den Weg in die Serienproduktion erleichtert.<\/strong><\/p>\n\n <\/div>\n <\/div>\n \n <\/div>\n\n\n

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Die automatisierte Halbleiter-Testzelle des Fraunhofer IIS ist darauf ausgelegt, integrierte Schaltungen \u00fcber verschiedene Phasen ihrer Entwicklung hinweg zu testen<\/strong>. Daf\u00fcr verbindet sie Entwicklung, Verifikation und Durchf\u00fchrung von Tests entlang des gesamten Produktlebenszyklus. Um das zu erm\u00f6glichen, kombiniert die Plattform ein automatisiertes Testsystem, das sogenannte Automatic Test Equipment (ATE), mit einem automatisierten Pick-and-Place-Handler zur Handhabung von Chips im Package. Diese Ger\u00e4te wurden im Rahmen von APECS<\/a> beschafft.<\/p>\n\n <\/div>\n <\/div>\n \n <\/div>\n\n\n

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\n \n \n \"\"\n <\/picture><\/div><\/div><\/div>
ATE und Pick-and-Place Handler in der Halbleiter-Testzelle
©<\/span>Fraunhofer IIS | Paul Pulkert<\/div><\/div>\n <\/div>\n\n\n

Industrienahe Testinfrastruktur f\u00fcr den \u00dcbergang in die Serienproduktion<\/strong> <\/strong><\/h3>\n\n\n\n
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Ein zentraler Schwerpunkt der Testzelle ist der Transfer in die Produktion<\/strong>. Ihre Besonderheit liegt in der industriell ausgerichteten Infrastruktur, die durch die langj\u00e4hrige Anwendungs- und Systemexpertise des Fraunhofer IIS im Bereich der optischen, magnetischen und gasbasierten Sensorik erg\u00e4nzt wird. So k\u00f6nnen auch komplexe Testprogramme, -hardware und -abl\u00e4ufe auf industriekompatiblem Equipment entwickelt, an die Anforderungen der sp\u00e4teren Serienpr\u00fcfung angepasst und an Serien-Testh\u00e4user \u00fcbertragen werden. Dies erm\u00f6glicht die \u00dcberf\u00fchrung von ASICs und Chiplets aus der Entwicklung in die Produktion<\/strong>.
\nDar\u00fcber hinaus eignet sich die Testinfrastruktur f\u00fcr die Charakterisierung einzelner Entwicklungsbausteine, f\u00fcr Kleinserien sowie seriennahe St\u00fcckzahlen. Damit unterst\u00fctzt das Fraunhofer IIS Kunden flexibel entlang des gesamten Produktentstehungsprozesses von ersten Prototypen bis zur Produktions\u00fcberf\u00fchrung.
\nF\u00fcr 2027 ist die Erweiterung der Testzelle um einen Wafer- und Frame-Prober geplant. Dieser erg\u00e4nzt die Testm\u00f6glichkeiten um Messungen auf Wafer-, sowie Frame- und Panel-Ebene. Damit sollen sich integrierte Schaltungen sowohl w\u00e4hrend der Entwicklung als auch in seriennahen Testabl\u00e4ufen auf Wafer- bzw. Bare-Die-Ebene elektrisch und sensorisch charakterisieren, qualifizieren und testen lassen.<\/p>\n\n <\/div>\n <\/div>\n \n <\/div>\n\n\n

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Halbleiter-Testzelle auf einen Bick<\/h3><\/span><\/th>\n <\/tr>\n \n

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Ger\u00e4t\/Technologie<\/strong><\/p>\n\n <\/td>\n

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Halbleiter-Testzelle<\/p>\n\n <\/td>\n <\/tr>\n

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Standort<\/strong><\/p>\n\n <\/td>\n

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Fraunhofer IIS Erlangen<\/p>\n\n <\/td>\n <\/tr>\n

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Leistung<\/strong><\/p>\n\n <\/td>\n

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  • Entwicklung, Verifikation und Durchf\u00fchrung von Tests f\u00fcr integrierte Schaltungen entlang des gesamten Produktlebenszyklus<\/li>\n
  • Entwicklung von Testkonzepten (Design-for-Test)<\/li>\n
  • Entwicklung von Test-Hardware (Loadboard und Probe-Card)<\/li>\n
  • Handling von\n
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    • 200\u2013300 mm Wafer und Frames<\/li>\n
    • Packages (1×1 mm \u2013 70 x 70 mm)<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n
    • Temperaturtests: -55 \u00b0C bis +200 \u00b0C<\/li>\n<\/ul>\n\n <\/td>\n <\/tr>\n
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Besonderheiten<\/strong><\/p>\n\n <\/td>\n

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  • Besonderheiten \u2022 Kombination industrieller Testinfrastruktur mit umfassendem Sensor- und Anwendungs-Know-how des Fraunhofer IIS
    \n\u2022 Unterst\u00fctzung bei anspruchsvollen sensorspezifischen Test- und Charakterisierungsaufgaben sowie anwendungsspezifischen Tests<\/li>\n<\/ul>\n\n <\/td>\n <\/tr>\n
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Kooperation<\/strong><\/p>\n\n <\/td>\n

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Anfragen f\u00fcr Kooperationen sind erw\u00fcnscht<\/p>\n\n <\/td>\n <\/tr>\n

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F\u00f6rderung und Projektlaufzeit<\/strong><\/p>\n\n <\/td>\n

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Die Ger\u00e4te zur Ausstattung der Halbleiter-Testzelle wurden im Jahr 2025 im Rahmen der APECS-Pilotlinie angeschafft.<\/p>\n\n <\/td>\n <\/tr>\n <\/table>\n <\/div>\n \n <\/div>\n <\/div>\n\n\n

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Vom Chipentwurf bis zur Serienfertigung gilt es, elektrische und funktionale Eigenschaften zuverl\u00e4ssig zu pr\u00fcfen und Herstellungsprozesse fr\u00fchzeitig abzusichern. Mit seiner automatisierten Testplattform unterst\u00fctzt das Fraunhofer IIS Unternehmen dabei, Halbleiter effizient zu charakterisieren und den Weg in die Serienproduktion vorzubereiten.<\/p>\n","protected":false},"author":176,"featured_media":34952,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[7],"tags":[],"class_list":["post-34950","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-close-ups"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/34950","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/176"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=34950"}],"version-history":[{"count":10,"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/34950\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":35348,"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/34950\/revisions\/35348"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/34952"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=34950"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=34950"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/fmd-insight.de\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=34950"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}