Neues Screeningtool für eine effiziente Halbleiterfertigung | Ein Green ICT Space-Projekt mit DIVE imaging systems GmbH

Projektstart: 01.01.2024
Projektpartner: 1

Die Halbleiterproduktion erzeugt hohe CO₂-Emissionen. »NEST« setzt genau hier an. Mit einem hyperspektralen Screeningtool sollen Fehler früh erkannt und Prozessschritte effizienter gesteuert werden, wodurch sowohl Materialverbrauch als auch ökologische Belastung deutlich reduziert werden können.

Das Projekt wurde im Rahmen des Green ICT Space umgesetzt. Mit diesem Programm unterstützte das Kompetenzzentrum Green ICT @ FMD technologieorientierte Start-ups und KMU dabei, die ökologischen Auswirkungen ihrer Produkte zu bewerten, praxisnahe Werkzeuge zur Ökobilanzierung zu nutzen und ihre Ressourcen- und Energieeffizienz zu steigern. Gleichzeitig profitieren die Teilnehmer:innen von Expertenwissen, erhöhter Sichtbarkeit und der Möglichkeit, ihre nachhaltigen Lösungen transparent zu kommunizieren.

©Adobe Stock | Montri Thipsorn

Zielsetzung

Das Ziel der Projektidee ist es, die ökologischen Einsparungen in der Halbleiterfertigung mithilfe der Hyperspectral Vision Technologie zu quantifizieren. Durch den Einsatz dieses Screeningtools können Anlagenkontrollwafer eingespart, Fehlproduktionen vermieden und Produktionskapazitäten ressourcenschonender genutzt werden.

Die DIVE imaging systems GmbH entwickelt innovative Inspektionstools, die die Vorteile der optischen Spektroskopie mit der Bildgebung kombinieren. Durch KI-Algorithmen werden die Prozessschritte in der Halbleiterfertigung umfassender kontrollierbar und der Einsatz von Betriebsmitteln kann verringert werden.

Wafermessungen in Sekundenschnelle

©DIVE imaging systems GmbH

Im Green ICT Space-Projekt wird das ökologische Einsparpotenzial in zwei Schritten quantifiziert. Zunächst wird das VEpioneer-System für die Reinraumnutzung qualifiziert, gefolgt von der Implementierung einer weiterentwickelten Systemlösung für eine 100%-ige Kontrolle der Produktionsschritte.

Die Technologie von DIVE ermöglicht eine effizientere Prozesskontrolle und -steuerung in der ressourcenintensiven Halbleiterfertigung. Wafermessungen können in Sekundenschnelle durchgeführt werden.

Wafermessungen in Sekundenschnelle

Im Green ICT Space-Projekt wird das ökologische Einsparpotenzial in zwei Schritten quantifiziert. Zunächst wird das VEpioneer-System für die Reinraumnutzung qualifiziert, gefolgt von der Implementierung einer weiterentwickelten Systemlösung für eine 100 %-ige Kontrolle der Produktionsschritte.

Die Technologie von DIVE ermöglicht eine effizientere Prozesskontrolle und -steuerung in der ressourcenintensiven Halbleiterfertigung. Wafermessungen können in Sekundenschnelle durchgeführt werden.

Durch die frühzeitige Fehlererkennung können Ressourcen eingespart und fehlerhafte Produktion reduziert werden, was zu einer Verringerung von CO₂-Emissionen, Wasserverbrauch und Prozesschemikalien führt. In der Front-End-Fertigung sind Einsparpotenziale von bis zu 40 % möglich. Im Projektverlauf werden die genauen Einsparpotenziale für jeden Prozessschritt quantifiziert.

Verbreitung und Weiterentwicklung der entwickelten Systemlösung

Nach Abschluss des Projekts sollen die entwickelten Systemlösungen für den Reinraum aktiv an Kunden in der Halbleiterfertigung vertrieben werden. Es ist geplant, die Technologie weiterzuentwickeln und ein gemeinsames Testbett für potenzielle Anwender aus Industrie und Wissenschaft zu etablieren.

©Adobe Stock | Montri Thipsorn

Space-Projekt auf einem Blick

Laufzeit

01.01.2024 – 31.12.2024

Projektpartner

DIVE imaging systems GmbH, Fraunhofer IPMS

Ziele

  • Quantifizierung ökologischer Einsparpotenziale der Halbleiterfertigung
    Entwicklung und Reinraum-Qualifizierung eines hyperspektralen Screeningtools
  • Wafermessung in Sekundenschnelle zur Reduktion von Kontrollwafern und Ressourcenverbrauch
  • Förderung effizienterer Prozesskontrolle und -steuerung durch KI-gestützte Bildgebung

Förderung

Im Rahmen des Kompetenzzentrums Green ICT @ FMD

An Screeningtool beteiligte FMD.institute