Der 12. CAM-Workshop »Failure Analysis and Material Diagnostics of Electronic Components« bringt am 20. und 21.05.2025 Expert:innen aus der Elektronikindustrie und Hersteller diagnostischer Messsysteme zusammen. Im Mittelpunkt der Veranstaltung stehen aktuelle Herausforderungen, innovative Analysemethoden und zukünftige Anforderungen im Bereich der Fehleranalyse und Materialcharakterisierung von elektronischen Bauteilen, Sensoren und Systemen.
Neben Fachvorträgen bietet eine begleitende Industrieausstellung die Möglichkeit zum direkten Austausch zwischen Anwender:innen und Herstellern. Das etablierte Veranstaltungskonzept macht den CAM-Workshop zu einem internationalen Treffpunkt für Expert:innen der Fehlerdiagnostik in der Elektronik. Organisiert wird der Workshop vom Fraunhofer IMWS.
